當(dāng)前位置:岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司>>晶圓缺陷檢測(cè)>>LAZIN>> LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置
列真株式會(huì)社自創(chuàng)業(yè)以來,秉承“挑戰(zhàn)"、“創(chuàng)造"、“誠實(shí)"的經(jīng)營(yíng)理念,為顧客提供可靠、可信的產(chǎn)品和服務(wù)。運(yùn)用激光掃描技術(shù),專門制造、銷售半導(dǎo)體材料表面及內(nèi)部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。
特征:
Glass Wafer的出貨檢查、過程評(píng)價(jià)
可同時(shí)檢查表面,背面和內(nèi)部的缺陷
用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷
檢查對(duì)象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer
檢查項(xiàng)目:表面和背面的顆粒、內(nèi)部缺陷
列真公司檢查裝置的維護(hù)、修理
定期支持裝置安裝完成后的性能維持。
24小時(shí)電話對(duì)應(yīng),全年無休的安心支持。
認(rèn)真對(duì)待客戶新的要求。
召開技術(shù)研討會(huì)和充實(shí)各種手冊(cè),讓顧客能夠自行維護(hù)和更換零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免費(fèi)診斷服務(wù)。